包装检测仪器
ITO薄膜厚度测试仪、实验室测厚仪、薄膜测厚仪
2022-04-11 11:12  点击量:1110
品牌:Labthink兰光
产品型号:CHY-CA
产品规格:CHY-CA
起订:1台
供应:100台
发货:3天内
联系方式
公司:济南兰光机电技术有限公司
状态:离线 发送信件 在线交谈
姓名:济南兰光(先生)
职位:销售,市场
电话:0531-85068566
手机:15764121171
地区:山东-济南市
地址:济南市无影山路144号
邮编:250031
邮件:marketing@labthink.com
QQ:1739638090
阿里旺旺:lgtest
发送询价


关键词:测厚仪,薄膜厚度仪,薄膜测厚仪,纸张厚度测定仪,厚度测量仪,厚度计,薄膜厚度测量仪,薄膜厚度检测仪,薄膜厚度测定仪,薄片测厚仪,硅片测厚仪,GB 6672,纸张测厚仪

ITO
薄膜是一种n型半导体材料,具有高的导电率、高的可见光透过率、高的机械硬度和良好的化学稳定性。它是液晶显示器(LCD)、等离子显示器(PDP)、电致发光显示器(EL/OLED)、触摸屏(TouchPanel)、太阳能电池以及其他电子仪表的透明电极常用的薄膜材料。ITO薄膜是一种很薄的金属薄膜,在透明导电薄膜方面得到普遍的应用,具有广阔的前景。但薄膜的厚度是否均匀直接关系到企业的生产成本控制,所以对ITO薄膜厚度的高精度测量,是企业必须重视的检测项目之一。

Labthink
兰光研发生产的ITO薄膜厚度测试仪,采用机械接触式测量方式,严格符合标准要求,有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。设备分辨率高达0.1微米,配置的自动进样系统,使用户可自行设置进样步距、测量点数和进样速度,大大提高了薄膜厚度测试效率。

ITO薄膜厚度测试仪技术特征:
测试范围:02mm(常规);06mm12mm(可选)
分辨率:0.1μm
测量速度:10 /min (可调)
测试压力:17.5±1 KPa(薄膜);50±1 KPa(纸张)
接触面积:50 mm2(薄膜);200 mm2(纸张)
      注:薄膜、纸张任选一种;非标可定制
进样步距:01000 mm
进样速度:0.199.9 mm/s

以上【
ITO薄膜厚度测试仪】信息由济南兰光机电技术有限公司发布,如欲了解更详细信息,欢迎致电0531-85068566垂询!


公司相关产品

0.1μm高精度薄膜厚度测试仪|薄膜厚度仪|薄膜测厚仪

济南兰光BOPP薄膜厚度测试仪、薄膜厚度仪

ITO薄膜厚度测试仪、实验室测厚仪、薄膜测厚仪

发表评论
0评