产品型号:PA
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北京飞凯曼科技公司提供2维平面成像应力双折射测试仪，能够快速、精准测量双折射相位差及其空间分布和方向。广泛应用于玻璃、晶体、聚合物薄膜、镜片、晶片等质量分析和控制领域。
我们针对相位差差别比较小的样品，要求测量速度高的应用，专门开发了PA系列小相位差高速型应力双折射测试仪，其关键是测量速度快。
技术参数：
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型号 |
PA-110 |
PA-110-L |
PA-micro |
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特点 |
快速型 |
大面积型 |
显微型 |
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典型应用 |
玻璃、蓝宝石、SiC、GaN等晶体 |
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传感器 |
标准偏振成像传感器 |
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成像像素 |
约97万像素 |
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测量范围 |
0-130nm |
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重复性 |
<1.0nm |
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测量波长 |
520nm |
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尺寸 |
310395x605.5mm |
450538x915.5mm |
240×400×530mm |
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观测到的面积 |
11×14 至100×136mm |
14×18至230×300mm |
100×130至1000×1300μm |
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重量 |
18kg |
24kg |
10kg |
应用领域：
玻璃，显示组件，注塑塑料件，拉伸纤维，光纤器件，微影手提袋，镜片毛坯，镜片，硅片，矿产，激光晶体，液态晶体，双折射晶体等
详细信息请咨询我们。
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