品牌:ROOKO瑞柯
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四探针电阻率测试系统

FT-371系列超高阻双电四探针测试仪

一、概述：本品为解决四探针法测试超高阻值材料方阻及电阻率，可以测试到10¹⁰Ω方阻值，是目前同行业中能测量到的方阻值，选购：本机还可以配合各类环境温度试验箱体使用，通过不同的测量治具满足不同环境温度下测量方阻和电阻率的需求.采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3?即笠壕?聊幌允荆??毕允疽壕?允荆旱缱琛⒌缱杪省⒎阶琛⑽露取⒌ノ换凰恪⑽露认凳?⒌缌鳌⒌缪埂⑻秸胄巫础⑻秸爰渚唷⒑穸 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.

双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。

二、广泛用于：覆盖膜;导电高分子膜，高、低温电热膜;隔热、防辐射导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试

硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻  半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件，导电薄膜（ITO导电膜玻璃等），金属膜，导电漆膜，蒸发铝膜，PCB铜箔膜，EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率  导电性油漆，导电性糊状物，导电性塑料，导电性橡胶，导电性薄膜，金属薄膜，抗静电材料， EMI 防护材料，导电性纤维，导电性陶瓷等提供中文或英文两种语言操作界面选择，满足国内及国外客户需求

三、参数资料

规格型号	FT-371A	FT-371B	FT-371C
1.方块电阻范围	10-4～1×107Ω/□	10-4～1×109Ω/□	10-4～1×1010Ω/□
2.电阻率范围	10-5～2×108Ω-cm	10-5～2×1010Ω-cm	10-5～2×1011Ω-cm
3.测试电流范围	10mA ---2nA	10mA ---20pA	10mA ---2pA
4.电流精度	±2%	±2%	±5%
5.电阻精度	≤10%	≤10%	≤15%
6.显示读数	液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率
7.测试方式	组合双电测试方法
8.工作电源	输入: AC 220V±10% ,50Hz  功 耗：<30W
9.整机不确定性误差	≤15%
10.选购功能	选购1.pc软件； 选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台
11.测试探头	探针间距选购： 2mm；3mm两种规格; 探针材质选购：碳化钨针、镀金磷铜半球形针

 

 

 

 

 

四探针电阻率测试系统